半導體冷熱沖擊試驗箱（半導體材料溫度沖擊箱）

芯片，又稱微芯片，是集成電路的載體。半導體冷熱沖擊試驗箱是專門用于對半導體元器件進行溫度循環(huán)測試的設備。芯片生產(chǎn)過程中需要對其進行冷熱沖擊試驗。一般情況下，民用芯片的正常溫度范圍是0℃-70℃，軍用芯片性能更高，正常工作溫度范圍是-55℃-125℃。

冷熱沖擊試驗箱(高低溫沖擊試驗箱)可以為電子芯片提供幾秒內溫度驟變的環(huán)境，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗箱經(jīng)常被用來做適應性試驗及對電子元器件的安全可靠性試驗和產(chǎn)品篩選。

規(guī)格參數(shù)：

溫度范圍：A:-40~+150 ℃ B:-50~+150℃ C:-60~+150℃

高溫室：預熱溫度范圍，RT+20℃~200℃

升溫時間：+20℃~+200℃約30min

低溫室：預冷溫度范圍，RT~-80℃

降溫時間：+20℃~-80℃約80min

實驗室沖擊：溫度均勻度±2.0℃

產(chǎn)品特點：

1. 試驗系統(tǒng)結構設計先進合理，制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方，維護保養(yǎng)方便。

2. 零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有水平的件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證使用者長時間、高頻率的使用要求。

3. 設備正常運行所需的附帶條件已有配備，買方只需提供動力電力和滿足要求的工作環(huán)境即可。

售后服務：

為用戶提供所需的使用、維護咨詢；

及時向用戶提供易損件和備件；

為使用者派出技術人員對其設備使用、維護進行現(xiàn)場指導；

從驗收之日起12個月質量保證期內，在需方遵守保管、使用和安裝規(guī)則的條件下，因試驗箱制造質量問題不能正常工作時，本公司負責免費保修。